導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-206737
公開番号（公開出願番号）：特開2012-063207
出願日： 2010年09月15日
公開日（公表日）： 2012年03月29日
要約：

【課題】試料温度分布の不均一性や電磁干渉ノイズの問題を解消して任意の温度における比熱容量と半球全放射率の測定値の確度・信頼性を向上させる。【解決手段】導電性試料に通電して急速加熱し、該試料を目標温度Tmを超えて任意の温度に到達させ、目標温度Tmにおける試料の加熱速度dT/dt、試料を流れる電流I、試料の電圧降下Vの測定データから次の関係式によりXとYを算出するステップ、試料に流す電流を変えることで加熱速度を離散的に変えて上記のステップを繰り返すことにより複数組のXとYを算出するステップ、該複数のXとYの値に対して、近似的に導出したXとYの1次式の傾きと切片の値から比熱容量cp及び半球全放射率εtを算出するステップを含む。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

導電性試料に電流を流して急速通電自己加熱し、該試料を目標温度Tmを超えて任意の温度へ到達させ、目標温度Tmにおける試料の加熱速度dT/dt、試料を流れる電流I、試料の電圧降下Vの測定データから次の関係式を利用してXとYを算出するステップ、

IPC (1件)：

G01N 25/20

FI (1件)：

G01N25/20 F

Fターム (15件)：

2G040AB05 , 2G040BA25 , 2G040CA02 , 2G040CA22 , 2G040CA23 , 2G040CB03 , 2G040CB12 , 2G040DA05 , 2G040DA12 , 2G040EA02 , 2G040EC02 , 2G040HA07 , 2G040HA16 , 2G040ZA01 , 2G040ZA05

引用特許：

出願人引用 (6件)

特許第4528954号
比熱容量測定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-249642 出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
物体加熱方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-298883 出願人：独立行政法人産業技術総合研究所

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