特許
J-GLOBAL ID:201203018214873173

半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人信友国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-115634
公開番号(公開出願番号):特開2012-244101
出願日: 2011年05月24日
公開日(公表日): 2012年12月10日
要約:
【課題】 より信頼性の高い接合界面を有する半導体装置を提供する。【解決手段】 半導体装置100を、第1半導体部と、第2半導体部とを備える構成とする。第1半導体部には、接合界面側の表面に形成されかつ第1の方向に延在する第1電極16を設ける。そして、第2半導体部には、接合界面で第1電極16と接合されかつ第1の方向と交差する第2の方向に延在する第2電極26を設ける。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
接合界面側の表面に形成されかつ第1の方向に延在する第1電極を有する第1半導体部と、 前記接合界面で前記第1電極と接合されかつ前記第1の方向と交差する第2の方向に延在する第2電極を有し、前記接合界面で前記第1半導体部と貼り合わせて設けられた第2半導体部と を備える半導体装置。
IPC (7件):
H01L 21/320 ,  H01L 21/768 ,  H01L 23/522 ,  H01L 27/14 ,  H01L 25/00 ,  H01L 21/02 ,  H01L 27/00
FI (6件):
H01L21/88 T ,  H01L21/88 Z ,  H01L27/14 D ,  H01L25/00 B ,  H01L21/02 B ,  H01L27/00 301B
Fターム (40件):
4M118AA10 ,  4M118AB01 ,  4M118BA14 ,  4M118FA06 ,  4M118GC07 ,  4M118GD04 ,  4M118GD07 ,  4M118HA31 ,  4M118HA33 ,  5F033HH07 ,  5F033HH11 ,  5F033HH18 ,  5F033HH21 ,  5F033HH32 ,  5F033HH33 ,  5F033JJ07 ,  5F033JJ11 ,  5F033JJ18 ,  5F033JJ21 ,  5F033JJ32 ,  5F033JJ33 ,  5F033KK07 ,  5F033KK11 ,  5F033KK18 ,  5F033KK21 ,  5F033KK32 ,  5F033KK33 ,  5F033MM02 ,  5F033MM12 ,  5F033MM13 ,  5F033MM21 ,  5F033MM22 ,  5F033NN06 ,  5F033NN07 ,  5F033QQ00 ,  5F033RR01 ,  5F033RR04 ,  5F033RR06 ,  5F033UU01 ,  5F033XX00
引用特許:
審査官引用 (5件)
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