特許
J-GLOBAL ID:201203018214873173
半導体装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人信友国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-115634
公開番号(公開出願番号):特開2012-244101
出願日: 2011年05月24日
公開日(公表日): 2012年12月10日
要約:
【課題】 より信頼性の高い接合界面を有する半導体装置を提供する。【解決手段】 半導体装置100を、第1半導体部と、第2半導体部とを備える構成とする。第1半導体部には、接合界面側の表面に形成されかつ第1の方向に延在する第1電極16を設ける。そして、第2半導体部には、接合界面で第1電極16と接合されかつ第1の方向と交差する第2の方向に延在する第2電極26を設ける。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
接合界面側の表面に形成されかつ第1の方向に延在する第1電極を有する第1半導体部と、
前記接合界面で前記第1電極と接合されかつ前記第1の方向と交差する第2の方向に延在する第2電極を有し、前記接合界面で前記第1半導体部と貼り合わせて設けられた第2半導体部と
を備える半導体装置。
IPC (7件):
H01L 21/320
, H01L 21/768
, H01L 23/522
, H01L 27/14
, H01L 25/00
, H01L 21/02
, H01L 27/00
FI (6件):
H01L21/88 T
, H01L21/88 Z
, H01L27/14 D
, H01L25/00 B
, H01L21/02 B
, H01L27/00 301B
Fターム (40件):
4M118AA10
, 4M118AB01
, 4M118BA14
, 4M118FA06
, 4M118GC07
, 4M118GD04
, 4M118GD07
, 4M118HA31
, 4M118HA33
, 5F033HH07
, 5F033HH11
, 5F033HH18
, 5F033HH21
, 5F033HH32
, 5F033HH33
, 5F033JJ07
, 5F033JJ11
, 5F033JJ18
, 5F033JJ21
, 5F033JJ32
, 5F033JJ33
, 5F033KK07
, 5F033KK11
, 5F033KK18
, 5F033KK21
, 5F033KK32
, 5F033KK33
, 5F033MM02
, 5F033MM12
, 5F033MM13
, 5F033MM21
, 5F033MM22
, 5F033NN06
, 5F033NN07
, 5F033QQ00
, 5F033RR01
, 5F033RR04
, 5F033RR06
, 5F033UU01
, 5F033XX00
引用特許:
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