特許
J-GLOBAL ID：201203022314771731

外観検査方法

発明者：
比嘉 雅文

比嘉 雅文 について


出願人/特許権者：
ケイミュー株式会社

ケイミュー株式会社 について


代理人 (4件)： 西川 惠清 ,  水尻 勝久 ,  坂口 武 ,  北出 英敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-063208
公開番号（公開出願番号）：特開2012-198145
出願日： 2011年03月22日
公開日（公表日）： 2012年10月18日
要約：
【課題】表面に凹凸を有する検査対象物の光沢を検査することができる外観検査方法を提供する。【解決手段】傾斜面12を有する凹凸が表面に形成された検査対象物Bの光沢を検査する外観検査方法である。前記検査対象物Bの表面から離間した位置に、光源3と受光器2とを前記検査対象物Bの表面からこの順で配置し、前記受光器2から前記検査対象物Bの表面に前記光源3を投影した位置を基準として前記検査対象物Bの表面の対称な位置を二つの検査領域B1、B2とし、前記光源3から前記検査対象物Bの表面に光L1、L2を照射し、前記二つの検査領域B1、B2からの反射光L3、L4を前記受光器2で受光し、前記受光器2で受光した反射光L3,L4から得られる前記各検査領域B1、B2の測定値を比較して前記測定値の差が所定の閾値以下か否かを判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
傾斜面を有する凹凸が表面に形成された検査対象物の光沢を検査する外観検査方法であって、前記検査対象物の表面から離間した位置に、光源と受光器とを前記検査対象物の表面からこの順で配置し、前記受光器から前記検査対象物の表面に前記光源を投影した位置を基準として前記検査対象物の表面の対称な位置を二つの検査領域とし、前記光源から前記検査対象物の表面に光を照射し、前記二つの検査領域からの反射光を前記受光器で受光し、前記受光器で受光した反射光から得られる前記各検査領域の測定値を比較して前記測定値の差が所定の閾値以下か否かを判定することを特徴とする外観検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/88 ,  G01N 21/57
FI (3件)：
G01N21/27 A ,  G01N21/88 Z ,  G01N21/57
Fターム (26件)：
2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051AC16 ,  2G051BA05 ,  2G051BA06 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CC11 ,  2G051EA09 ,  2G051EB01 ,  2G051EB05 ,  2G051EC03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059BB15 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM05
引用特許：
審査官引用 (4件)
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