特許
J-GLOBAL ID：201203033390126740
機器障害分析装置、機器障害分析方法、および機器障害分析プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-242198
公開番号（公開出願番号）：特開2012-094046
出願日： 2010年10月28日
公開日（公表日）： 2012年05月17日
要約：
【課題】イベントログの中で、障害原因の特定の手掛かりとなる箇所を短時間で見つけ出す。【解決手段】機器の正常稼動時におけるイベントを含む正常時ログを記憶する正常時ログ記憶部0106と、正常時ログの特徴を示すパターン情報を含む正常時パターンを記憶する正常時パターン記憶部0104と、稼動ログに含まれるイベントの順列と正常時パターンに含まれるパターン情報の順列とを比較することにより、稼動ログと正常時パターンとの不一致箇所を特定し、特定した不一致箇所に基づいて、稼動ログと正常時パターンとの不一致の程度が所定のしきい値を超えているか否かを判定するパターンチェック部0105と、パターンチェック部0105が、不一致の程度が所定のしきい値を超えていないと判定した場合に、正常時ログから正常時パターンを抽出し、抽出した正常時パターンを正常時パターン記憶部に記憶させる特徴分析部0107と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
機器の稼動ログを分析して障害検知または障害原因分析を行う機器障害分析装置であって、
前記機器の稼働時におけるイベントを含む機器稼動ログを記憶する機器稼動ログ記憶部と、
前記機器の正常稼動時におけるイベントを含む正常時ログを記憶する正常時ログ記憶部と、
前記正常時ログの特徴を示すパターン情報を含む正常時パターンを記憶する正常時パターン記憶部と、
前記機器稼動ログに含まれる前記イベントの順列と前記正常時パターンに含まれる前記パターン情報の順列とを比較することにより、前記機器稼動ログと前記正常時パターンとの不一致箇所を特定し、特定した前記不一致箇所に基づいて、前記機器稼動ログと前記正常時パターンとの不一致の程度が所定のしきい値を超えているか否かを判定するパターンチェック部と、
前記パターンチェック部が、前記不一致の程度が所定のしきい値を超えていないと判定した場合に、前記機器稼動ログを前記正常時ログに追加し、前記正常時ログから前記正常時パターンを抽出し、抽出した前記正常時パターンを前記正常時パターン記憶部に記憶させる特徴抽出部と、
を備えることを特徴とする機器障害分析装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06F11/34 S
, G06F11/34 L
5B042JJ29
, 5B042JJ31
, 5B042KK13
, 5B042KK15
, 5B042MA08
, 5B042MA14
, 5B042MC15
, 5B042MC17
, 5B042MC35
, 5B042MC40
, 5B042NN01
