特許

J-GLOBAL ID：201203057824134785

遺伝子配列解析装置および遺伝子配列解析方法

発明者： 辻 浩志 ,  松村 仁
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-245152
公開番号（公開出願番号）：特開2012-095582
出願日： 2010年11月01日
公開日（公表日）： 2012年05月24日
要約：

【課題】剛性が不明の作業台に設置された場合でも、簡易な構成で、性能を維持することができる遺伝子配列解析装置および遺伝子配列解析方法を提供する。【解決手段】筐体内に、試料または試薬を分注する分注ロボットと、前記試料または試薬を載置し、二次元に移動するステージと、前記試料または試薬からの蛍光を撮影する画像取得装置とを備える遺伝子配列解析装置であって、作業台に載置された状態で、前記画像取得装置が撮影する際に画像に生じる蛍光の位置ずれを計算するための所定の関係式に基づき、前記分注ロボットに要する駆動力または前記ステージ移動に要する駆動力のうち少なくとも一方の上限値を計算する演算部と、前記分注ロボットに要する駆動力が前記上限値を上回る場合、前記分注ロボットに要する駆動力を抑制する分注ロボット制御部、または前記ステージ移動に要する駆動力が前記上限値を上回る場合、前記ステージの移動に要する駆動力を抑制するステージ制御部のうち少なくとも一方と、を備える。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

筐体内に、試料または試薬を分注する分注ロボットと、前記試料または試薬を載置し、二次元に移動するステージと、前記試料または試薬からの蛍光を撮影する画像取得装置とを備える遺伝子配列解析装置であって、 作業台に載置された状態で、前記画像取得装置が撮影する際に画像に生じる蛍光の位置ずれを計算するための所定の関係式に基づき、前記分注ロボットに要する駆動力または前記ステージ移動に要する駆動力のうち少なくとも一方の上限値を計算する演算部と、 前記分注ロボットに要する駆動力が前記上限値を上回る場合、前記分注ロボットに要する駆動力を抑制する分注ロボット制御部、または 前記ステージ移動に要する駆動力が前記上限値を上回る場合、前記ステージの移動に要する駆動力を抑制するステージ制御部のうち少なくとも一方と、 を備えることを特徴とする遺伝子配列解析装置。

IPC (3件)：

C12M 1/00 ,  G01N 21/78 ,  C12N 15/00

FI (3件)：

C12M1/00 A ,  G01N21/78 C ,  C12N15/00 Z

Fターム (9件)：

2G054AA06 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054FA06 ,  2G054JA01 ,  4B029AA07 ,  4B029BB20 ,  4B029FA15 ,  4B029HA09

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 核酸増幅基板
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-107513   出願人：住友精密工業株式会社, 国立大学法人徳島大学
• 荷電粒子線装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-107308   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
• 電子線描画方法および電子線描画装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-167594   出願人：株式会社日立製作所
• 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の撮像方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-314172   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ