特許
J-GLOBAL ID:201203061954637840

画像形成装置、制御方法、及びプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-151434
公開番号(公開出願番号):特開2012-015864
出願日: 2010年07月01日
公開日(公表日): 2012年01月19日
要約:
【課題】従来技術に比べ、更なる白抜けについての改善を図る。【解決手段】光導電性の像担持体と、前記像担持体を帯電する帯電手段と、帯電後の前記像担持体の表面を画像パターンに応じて像露光することで静電潜像を形成する像露光手段と、前記静電潜像にトナーを付着させてトナー像を現像する現像手段とを備える画像形成装置であって、前記画像パターンにおける高濃度領域と低濃度領域とが隣接するエッジ部を検出するエッジ検出手段と、前記画像パターンに応じてパルス幅変調を行い、前記像露光手段に露光を行わせる露光制御手段とを有し、前記露光制御手段は、前記エッジ検出手段により検出された前記エッジ部を形成する前記低濃度領域に対する、像露光光による露光面積あたりの露光強度を増加させることを特徴とする。【選択図】図13
請求項(抜粋):
光導電性の像担持体と、前記像担持体を帯電する帯電手段と、帯電後の前記像担持体の表面を画像パターンに応じて像露光することで静電潜像を形成する像露光手段と、前記静電潜像にトナーを付着させてトナー像を現像する現像手段とを備える画像形成装置であって、 前記画像パターンにおける高濃度領域と低濃度領域とが隣接するエッジ部を検出するエッジ検出手段と、 前記画像パターンに応じてパルス幅変調を行い、前記像露光手段に露光を行わせる露光制御手段と を有し、 前記露光制御手段は、前記エッジ検出手段により検出された前記エッジ部を形成する前記低濃度領域に対する、像露光光による露光面積あたりの露光強度を増加させることを特徴とする画像形成装置。
IPC (4件):
H04N 1/409 ,  G03G 15/00 ,  B41J 2/44 ,  G06T 5/00
FI (4件):
H04N1/40 101D ,  G03G15/00 303 ,  B41J3/00 M ,  G06T5/00 200A
Fターム (27件):
2C362CB23 ,  2C362CB24 ,  2C362CB25 ,  2H270LA12 ,  2H270LD08 ,  2H270MA09 ,  2H270MC21 ,  2H270ZC04 ,  2H270ZC05 ,  5B057AA11 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB07 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE13 ,  5B057DC16 ,  5C077LL19 ,  5C077MP07 ,  5C077NN08 ,  5C077NN17 ,  5C077PP03 ,  5C077PP47 ,  5C077SS02 ,  5C077TT03
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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