特許
J-GLOBAL ID：201203075106793086

塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置

発明者：
長門 毅

長門 毅 について

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布施 貴史

布施 貴史 について

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高橋 文之

高橋 文之 について

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塚原 博之

塚原 博之 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (6件)： 土井 健二 ,  林 恒徳 ,  柏谷 昭司 ,  渡邊 弘一 ,  眞鍋 潔 ,  伊藤 壽郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-230251
公開番号（公開出願番号）：特開2012-083239
出願日： 2010年10月13日
公開日（公表日）： 2012年04月26日
要約：
【課題】 塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置に関し、表面塗装状態の検査を1回の画像撮像により簡便に且つ高効率に行う。【解決手段】 縞状明パターンと縞状暗パターンとが交互に配列された明暗パターンの照射光を、1回の照射時間内に前記明暗パターンの切り替えと照射輝度の変調を行って検査対象物の塗装表面に照射する工程と、前記塗装表面からの反射光を撮像装置により画像として取得する工程と、前記取得した画像における輝度情報から前記塗装表面の内部の異物や混入物の影響と前記塗装表面の凹凸欠陥とを区別する画像処理工程とを設ける。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
縞状明パターンと縞状暗パターンとが交互に配列された明暗パターンの照射光を、1回の照射時間内に前記明暗パターンの切り替えと照射輝度の変調を行って検査対象物の塗装表面に照射する工程と、 前記塗装表面からの反射光を撮像装置で画像として取得する工程と、 前記取得した画像における輝度情報から前記塗装表面の内部の異物や混入物の影響と前記塗装表面の凹凸欠陥とを区別する画像処理工程と を有することを特徴とする塗装表面欠陥検査方法。
IPC (2件)：
G01N 21/88 ,  G01B 11/30
FI (2件)：
G01N21/88 Z ,  G01B11/30 A
Fターム (24件)：
2F065AA49 ,  2F065AA65 ,  2F065BB27 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG24 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL53 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ31 ,  2G051AA90 ,  2G051AB06 ,  2G051AB07 ,  2G051AB12 ,  2G051BA20 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA08 ,  2G051EB01
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (5件)
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