特許
J-GLOBAL ID：201203077934739691

被膜劣化評価方法および装置

発明者：
齋藤 博之

齋藤 博之 について


出願人/特許権者：
日本電信電話株式会社

日本電信電話株式会社 について


代理人 (3件)： 山川 政樹 ,  山川 茂樹 ,  小池 勇三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-223800
公開番号（公開出願番号）：特開2012-078209
出願日： 2010年10月01日
公開日（公表日）： 2012年04月19日
要約：
【課題】金属表面の状態にかかわらず、被膜の劣化が評価できるようにする。【解決手段】まず、第1の時点で、被膜が形成されている金属構造体表面における酸素の拡散限界電流値を測定して第1測定値を得る。次に、第1の時点より後の第2の時点で、被膜が形成されている金属構造体表面における酸素の拡散限界電流値を測定して第2測定値を得る。この後、第1測定値と第2測定値の比較により被膜の劣化を評価する。例えば、第2測定値が第1測定値より、設定してある値以上に大きい場合、被膜が劣化しているものと判断する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
第1の時点で、被膜が形成されている金属構造体の表面における酸素の拡散限界電流値を測定して第1測定値を得る第1ステップと、 前記第1の時点より後の第2の時点で、前記被膜が形成されている前記金属構造体の表面における酸素の拡散限界電流値を測定して第2測定値を得る第2ステップと、 前記第1測定値と前記第2測定値の比較により前記被膜の劣化を評価する第3ステップと を少なくとも備えることを特徴とする被膜劣化評価方法。
IPC (2件)：
G01N 17/00 ,  G01N 27/26
FI (3件)：
G01N17/00 ,  G01N27/26 351J ,  G01N27/26 351M
Fターム (10件)：
2G050AA01 ,  2G050AA04 ,  2G050BA02 ,  2G050BA03 ,  2G050CA01 ,  2G050CA04 ,  2G050EA06 ,  2G050EB03 ,  2G050EC01 ,  2G050EC05
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示
引用文献：
審査官引用 (1件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM