特許
J-GLOBAL ID:201203088813318216
粒子固定用構造体、粒子解析装置、及び解析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
遠山 勉
, 平川 明
, 丹羽 武司
, 中村 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-150522
公開番号(公開出願番号):特開2012-013551
出願日: 2010年06月30日
公開日(公表日): 2012年01月19日
要約:
【課題】バックグラウンドノイズやクロストークノイズなどを低減し、多数の微粒子の光学的な観察を高感度且つ高精度に行うことを可能にする技術を提供する。【解決手段】粒子固定用構造体14は、被検体粒子を構成する成分の存在を示す物質から発せられる光を検出するために該被検体粒子をそれぞれ保持する複数の保持孔9を有するものであり、平板状の基板15と、基板15上に配置され、複数の保持孔9が形成された保持部20と、を備え、保持部20は、少なくとも2つの絶縁体膜18、18と、該2つの絶縁体膜18、18に挟まれて設けられた遮光膜19とを有し、保持孔9は、保持部20の上表面側に開口し、2つの絶縁体膜18、18および遮光膜19を経て基板15まで延在する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
被検体粒子を構成する成分の存在を示す物質により発せられる光を検出するために該被検体粒子をそれぞれ保持する複数の保持孔を有する粒子固定用構造体であって、
平板状の基板と、
前記基板上に配置され、前記複数の保持孔が形成された保持部と、を備え、
前記保持部は、少なくとも2つの絶縁体膜と、該2つの絶縁体膜に挟まれて設けられた遮光膜とを有し、前記保持孔は、前記保持部の上表面側に開口し、該2つの絶縁体膜および該遮光膜を経て前記基板まで延在する、
粒子固定用構造体。
IPC (5件):
G01N 21/64
, G01N 1/00
, G01N 35/02
, G01N 33/483
, G01N 21/05
FI (6件):
G01N21/64 E
, G01N1/00 101H
, G01N35/02 A
, G01N33/483 C
, G01N21/64 F
, G01N21/05
Fターム (44件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043GB02
, 2G043GB05
, 2G043GB11
, 2G043GB12
, 2G043GB16
, 2G043GB17
, 2G043KA02
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G045AA24
, 2G045BA13
, 2G045CB01
, 2G045FA14
, 2G052AA33
, 2G052AD09
, 2G052AD29
, 2G052AD54
, 2G052DA06
, 2G052GA11
, 2G052GA30
, 2G057AA04
, 2G057AB01
, 2G057AC01
, 2G057BA03
, 2G057BA05
, 2G057BB06
, 2G057BB08
, 2G057BB10
, 2G057BD03
, 2G057BD04
, 2G057BD10
, 2G058CC02
, 2G058CC17
, 2G058GA01
引用特許:
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