光干渉断層撮影装置、画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：阿部琢磨 , 黒岩創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-079367
公開番号（公開出願番号）：特開2012-213452
出願日： 2011年03月31日
公開日（公表日）： 2012年11月08日
要約：

【課題】撮影後に撮影の成否確認が行えるようにする。【解決手段】走査光学系を介して被測定物体に照射された光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づいて被測定物体の複数の断層画像を生成する生成部301と、複数の断層画像の少なくともいずれかに対して画質を向上させる画像処理をする画像処理部304と、生成部301で生成した断層画像のいずれかを表示した後に画像処理部304で画像処理した画像をモニタ320に表示する表示制御部310と、を備える。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

被測定物体に照射された光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づいて前記被測定物体の断層画像を生成する生成手段と、前記生成手段で生成された断層画像の少なくともいずれかに対して画質を向上させる画像処理をする画像処理手段と、前記生成手段で生成した断層画像のいずれかを表示した後に前記画像処理手段で画像処理した画像を前記表示手段に表示する表示制御手段と、を備えることを特徴とする光干渉断層撮影装置。

IPC (3件)：

A61B 3/12 , A61B 3/10 , G01N 21/17

FI (3件)：

A61B3/12 E , A61B3/10 R , G01N21/17 625

Fターム (20件)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE01 , 2G059EE09 , 2G059EE12 , 2G059FF02 , 2G059FF09 , 2G059GG02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059KK04 , 2G059LL01 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059MM10 , 2G059PP04

引用特許：

審査官引用 (7件)

眼科撮影装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-283871 出願人：株式会社ニデック
画像処理方法,画像処理装置,X線透視撮影装置及びX線撮影装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-220112 出願人：ジーイー横河メディカルシステム株式会社
光画像計測装置、画像処理装置及びプログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-077687 出願人：株式会社トプコン

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