文献

J-GLOBAL ID：201302212301180693   整理番号：13A0039925

JIEDIツールを使用したイオンスラスタ光学系の数値寿命評価

Numerical Lifetime Evaluation of Ion Thruster’s Ion Optics using the JIEDI Tool

著者 (8件)： FUNAKI Ikkoh (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  WATANABE Hiroki (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  NAKANO Masakatsu (Tokyo Metropolitan Coll. Industrial Technol., Tokyo, JPN) ,  KAJIMURA Yoshihiro (Akahi National Coll. Technol., Hyogo, JPN) ,  MIYASAKA Takeshi (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  NAKAYAMA Yoshinori (National Defense Acad. Japan, Kanagawa, JPN) ,  KUNINAKA Hitoshi (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  SHINOHARA Iku (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN)
資料名： AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference & Exhibit  (AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference & Exhibit)
巻： 48th Vol.2  ページ： 1031-1041  発行年： 2012年 
JST資料番号： W2308A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： JIEDIツールによるスラスタのイオン光学系の数値認定試験の可能性を評価するため,JIEDIツールによる寿命の開始(BOL)から寿命の終了(EOL)までの数値損耗試験をマイクロ波イオンスラスタμ10技術試験モデル(μ10EM)のイオン光学系について行った。高イオンビーム電流孔の腐食状況がμ10EM光学系の寿命推定に重要であることが分かった。μ10EMイオンスラスタのイオン光学系は,主として弾性衝突で散乱したイオンおよび中性子のスパッタリングで生じる減速格子の構造故障でそのEOLを迎える。μ10EMイオン光学系の推定寿命は最長で545キロ時間である。μ10EM光学系の数値損耗試験を通じ,JIEDIツールによるイオン光学系の寿命推定プロセスを実証した。イオンスラスタの実際の運用では,イオン光学系の幾何寸法がミスアラインメントや熱膨張で若干の誤差があり,また運用パラメータは,スラスタ性能劣化と定格低減運用で幅がある。したがってJIEDIツールによるイオン光学系の数値認定試験では,ある格子寸法と運用パラメータに対するパラメトリック寿命解析を通じイオン光学系の寿命に対する確率分布を評価することが必要である。 AIAA-2012-3797

シソーラス用語： *イオンエンジン ,  消耗 ,  電極 ,  *耐久性 ,  *プログラムパッケージ ,  イオンビーム ,  イオンビームスパッタリング ,  減速 ,  弾性散乱 ,  解析 ,  不整合 ,  試験 ,  確率分布 ,  格子電極
準シソーラス用語： パラメトリック解析 ,  ミスアラインメント ,  弾性衝突 ,  電極損耗 ,  認定試験

分類 (1件)： ロケットエンジン  (PB02050J)

タイトルに関連する用語 (5件)： ツール ,  イオンスラスタ ,  光学系 ,  数値 ,  寿命評価