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J-GLOBAL ID：201302218122458555   整理番号：13A0293119

超高圧電子線トモグラフィーと集束イオンビーム法によるヒトエナメル質と象牙質の限外構造観察

Ultra-structural observation of human enamel and dentin by ultra-high-voltage electron tomography and the focus ion beam technique

著者 (4件)： MIURA Jiro (Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN) ,  KUBO Mizuho (Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN) ,  NAGASHIMA Tadashi (Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN) ,  TAKESHIGE Fumio (Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 61  号： 5  ページ： 335-341  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過型電子顕微鏡や走査型電子顕微鏡は歯試料の限外構造観察に用...

シソーラス用語： 集束イオンビーム ,...
準シソーラス用語： コラーゲン原線維 ,...

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分類 (2件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C) ,  歯の基礎医学  (GT01020O)

タイトルに関連する用語 (8件)： 超高圧 ,  電子線トモグラフィー ,  集束イオンビーム法 ,  ヒト ,  エナメル質 ,  象牙質 ,  限外構造 ,  観察