文献

J-GLOBAL ID：201302230426397226   整理番号：13A0650389

寿命指向回路設計への利用を意図した新しい信頼性評価方法

A New Reliability Evaluation Methodology With Application to Lifetime Oriented Circuit Design

著者 (2件)： SAJJADI-KIA Hamed (North Dakota State Univ., ND, USA) ,  ABABEI Cristinel (State Univ. New York, NY, USA)
資料名： IEEE Transactions on Device and Materials Reliability  (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 13  号： 1  ページ： 192-202  発行年： 2013年03月 
JST資料番号： W1320A  ISSN： 1530-4388  CODEN： ITDMA2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい回路レベルの脆弱性と信頼性評価方法を提示し,それを寿命指向フロアプランに適用した。この寿命-時間推論エンジンの中核は時間依存する誘電破壊,負バイアス温度不安定性,エレクトロマイグレーション,温度サイクリングおよびストレスマイグレーションを含めたいくつかの加熱メカニズムに関する,Weibullおよび対数正規分布関数で記述される故障生起時間モデルによる,MonteCarloアルゴリズムに基づく寿命-時間推論エンジンである。提示した信頼性評価方法とフロアプラン実施方策の検証に,ネットワークオンチップルータ設計事例を利用した。回路とシステムの故障生起までの平均時間を推定し,設計の特定部分に集中してコストエフェクティブな設計を望む設計者に役立つ知見となると期待される。

シソーラス用語： フロアプラン ,  *超LSI ,  相互結合網 ,  超小形回路技術 ,  回路設計 ,  *信頼性設計 ,  計算機シミュレーション ,  シミュレーションモデル ,  寿命予測 ,  *CAD【計算機】
準シソーラス用語： ネットワークオンチップ ,  信頼性評価

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 寿命 ,  回路設計 ,  意図 ,  信頼性評価