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J-GLOBAL ID：201302236017025862   整理番号：13A0339176

ナノ結晶粒界品質評価手法の開発と薄膜多結晶材料への適用

著者 (4件)： 村田直一 (東北大 大学院工学研究科) ,  斎藤直樹 (東北大 大学院工学研究科) ,  鈴木研 (東北大 エネルギー安全科学国際研究セ) ,  三浦英生 (東北大 エネルギー安全科学国際研究セ)
資料名： 日本機械学会M&M材料力学カンファレンス(CD-ROM)  (日本機械学会M&M材料力学カンファレンス講演論文集(CD-ROM))
巻： 2012  ページ： ROMBUNNO.OS1311  発行年： 2012年 
JST資料番号： L0191B  ISSN： 2424-2845  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 多結晶材料にける結晶粒界品質という新しい材質評価パラメータを提案した。電子線後方散乱回折像法を応用し集束した電子線を走査し,照射領域から得られる菊池線模様を分析することで,結晶粒界位置の特定とその近傍における原子配列の秩序性評価に基づく結晶粒界の品質評価が可能となることを明らかにした。本評価指標は従来の結晶方位差に基づく結晶粒界性状とは全く独立した概念であることを示した。(著者抄録)

シソーラス用語： 多結晶 ,  *薄膜 ,  *結晶粒界 ,  ナノ結晶 ,  電子回折 ,  評価
準シソーラス用語： *電子線後方散乱回折 ,  品質評価

分類 (1件)： 格子欠陥一般  (BK12010J)

タイトルに関連する用語 (6件)： 結晶粒界 ,  品質評価 ,  手法 ,  開発 ,  薄膜 ,  多結晶