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J-GLOBAL ID：201302245240229088   整理番号：13A1500747

半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討

Optical Distance Measurement Using Frequency Noises of a Semiconductor Laser

著者 (8件)： 清水直弥 (新潟大 大学院自然科学研究科) ,  前原進也 (新潟大 大学院自然科学研究科) ,  土井康平 (東北学院大 工学総合研) ,  新井英明 (新潟大 大学院自然科学研究科) ,  佐藤孝 (新潟大 工) ,  大河正志 (新潟大 工) ,  大平泰生 (新潟大 工) ,  坂本秀一 (新潟大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 113  号： 186(R2013 28-63)  ページ： 11-14  発行年： 2013年08月22日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 半導体レーザは,自然放出光の影響による振幅揺らぎとキャリア密度の変動から,屈折率の変動,すなわち発振周波数の変動となる周波数揺らぎを保有している。本研究では,半導体レーザの周波数雑音特性を積極的に利用した新たな応用として,光距離計測が可能か検討した。我々が提案する光距離計測では,周波数雑音の比較により,距離差を求める。それにより,光源の変調を必要とせず,遠距離でも測定精度が変わらないレーザ距離計測が可能と考えられる。ここでは,提案手法により0~35mの光距離計測検討を行ったので報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： *半導体レーザ ,  *雑音 ,  *距離測定 ,  周波数変調 ,  復調器 ,  実験 ,  長さ測定 ,  周波数特性 ,  周波数 ,  ゆらぎ ,  測定精度
準シソーラス用語： 距離計測 ,  周波数ゆらぎ ,  *周波数雑音 ,  測長 ,  発振周波数

分類 (3件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  半導体レーザ  (BD04070L) ,  雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 半導体レーザ ,  周波数雑音 ,  応用 ,  距離計測