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J-GLOBAL ID：201302250308072194   整理番号：13A0013749

高エネルギー放射光を用いた強加工層極表面近傍での残留応力測定と組織変化挙動の考察

Consideration of Microstructure Evolution and Residual Stress Measurement near Severe Worked Surface Using High Energy X-Ray

著者 (3件)： 橋本匡史 (大阪大学大学院工学研究科) ,  菖蒲敬久 (日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門弾塑性材料評価研究グループ) ,  望月正人 (大阪大学大学院工学研究科)
資料名： 材料  (Journal of the Society of Materials Science, Japan)
巻： 61  号： 7  ページ： 612-619 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 機械構造物の強加工層の極表面近傍残留応力分布を測定する為に,高エネルギー放射光を用いた三軸応力測定法を提案した。その有効性を検証する為に,Ni基600合金を用い,溶接,切削,ピーニングを多重施行したリング状試験体を対象に,高温環境下において残留応力を測定した。大型放射光施設Spring8にて実施した。3,5,7,12,18μmの侵入深さで測定した。従来法との比較を行なった。その結果,提案法により強加工層の残留応力を非破壊で詳細に測定でき,提案法の有効性を確認した。

シソーラス用語： 高エネルギー領域 ,  *放射線 ,  *残留応力 ,  *表面 ,  機械構造物 ,  塑性加工 ,  ピーニング ,  ニッケル合金 ,  放射光施設 ,  応力解析 ,  疲れ破壊
準シソーラス用語： SPring-8 ,  応力勾配 ,  *高エネルギー放射線

分類 (4件)： 円形加速器  (BE02020X) ,  X線技術  (BA02060D) ,  その他の表面処理  (WC08070F) ,  金属材料  (HC05020S)

引用文献 (18件)：

• 1) T. Hashimoto, Y. Osawa, S. Itoh, S. Hirano, M. Mochizuki and K. Nishimoto, “Long-term stability of residual stress improvement by water jet peening considering working processes”, Transactions ASME. submitted.
• 2) R. Ihara, J. Katsuyama, K. Onizawa, T. Hashimoto, Y. Mikami and M. Mochizuki, “Pediction of residual stress distributions due to surface machining and welding and crack growth simulation under residual stress distribution”, Nuclear Engineering and Design, Vol.241, pp.1335-1344 (2011).
• 3) T. Hanabusa, “Study of X-ray residual stress analysis for deformed layer”, PhD Thesis, Osaka University (1982).
• 4) P. J. Webster, P. A. Browne and G. Mills, “Residual stresses in peened hiduminium”, Materials Science Forum, Vol.347-349, pp.447-452 (2000).
• 5) A. King, A. Steuwer, C. Woodward and P. J. Withers, “Effect of fatigue and fretting on residual stresses introduced by laser shock peening”, Materials Science and Engineering, Vol.435-436, pp.12-18 (2006).

タイトルに関連する用語 (7件)： 高エネルギー ,  放射光 ,  近傍 ,  残留 ,  応力測定 ,  組織変化 ,  挙動