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J-GLOBAL ID：201302263708783175   整理番号：13A0981220

超高電圧電子顕微鏡におけるミクロン厚試料の電子断層撮影の解像度

Electron tomographic resolution of microns-thick specimens in the ultrahigh voltage electron microscope

著者 (5件)： CAO Meng (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN) ,  WANG Fang (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN) ,  QIAO Zhi-Wei (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN) ,  ZHANG Hai-Bo (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN) ,  NISHI Ryuji (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Micron  (Micron)
巻： 49  ページ： 71-74  発行年： 2013年06月 
JST資料番号： E0318E  ISSN： 0968-4328  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高電圧電子顕微鏡 ,  厚 ,  試料 ,  電子 ,  断層撮影 ,  解像度