文献
J-GLOBAL ID：201302267907069800
整理番号：13A0853277
(411)A面GaAs基板上のGaAs/GaAsBi超格子のMBE成長とX線構造評価
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著者 (4件)：
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資料名：
巻：
60th
ページ：
ROMBUNNO.29P-G20-10
発行年：
2013年03月11日
JST資料番号：
Y0054B
ISSN：
2436-7613
資料種別：
会議録 (C)
記事区分：
短報
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (1件)：
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半導体薄膜
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