SHRIVASTAVA Mayank について
Intel Mobile Communications GmbH, Munich, DEU について
GOSSNER Harald について
Intel Mobile Communications GmbH, Munich, DEU について
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability について
信頼性試験 について
放電 について
静電気 について
ロバスト性 について
MOSFET について
ドレイン【半導体】 について
素子構造 について
電流電圧特性 について
フィラメント について
LDMOS について
安全動作領域 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
トランジスタ について
ドレイン について
拡張 について
MOSデバイス について
ESD について
ロバスト性 について