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J-GLOBAL ID：201302287610857517   整理番号：13A0035973

高エネルギー領域のシンクロトロンX線マイクロトモグラフィーの空間解像度:X線エネルギーと試料-検出器間距離の効果

Spatial resolution of synchrotron x-ray microtomography in high energy range: Effect of x-ray energy and sample-to-detector distance

著者 (7件)： SEO D. (Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN) ,  TOMIZATO F. (Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN) ,  TODA H. (Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN) ,  UESUGI K. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN) ,  TAKEUCHI A. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN) ,  SUZUKI Y. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Mikazuki, Sayo, Hyogo 679-5198, JPN) ,  KOBAYASHI M. (Dep. of Mechanical Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 101  号： 26  ページ： 261901-261901-5  発行年： 2012年12月24日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロンX線マイクロトモグラフィー技術で得られた三次元画像の空間解像度を鋼線状に加工した周期バーパターンを用いて評価した。空間解像度に及ぼすX線エネルギーと試料-検出器間距離の影響を調べた。33-78keVの高X線エネルギーは遷移金属の高X線吸収により適用した。68-78keVエネルギー領域,20-110mmの試料-検出器間距離において,約1.2μmの最適な空間解像度を観測した。空間解像度の低下に影響するX線の散乱や回折現象などのいくつかの因子についても検討した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線CT ,  シンクロトロン放射 ,  断層画像 ,  X線画像 ,  立体画像 ,  空間分解能 ,  試料 ,  放射線検出器 ,  距離 ,  エネルギー領域 ,  X線散乱 ,  X線回折 ,  遷移金属
準シソーラス用語： CT画像 ,  *X線マイクロトモグラフィー ,  三次元画像 ,  試料-検出器間距離

分類 (1件)： その他の構造決定法  (BK01070L)

タイトルに関連する用語 (8件)： 高エネルギー領域 ,  シンクロトロン ,  X線マイクロトモグラフィー ,  空間解像度 ,  X線 ,  エネルギー ,  試料 ,  検出器