文献

J-GLOBAL ID：201302292428670456   整理番号：13A1770809

XPS測定時の試料損傷に関する研究

著者 (2件)： 大和弘之 (栃木県産業技術セ) ,  仁平淳史 (栃木県産業技術セ)
資料名： 栃木県産業技術センター研究報告  (Reports of Industrial Technology Center of Tochigi Prefecture)
号： 10  ページ： 97-99  発行年： 2013年08月28日 
JST資料番号： L0285B  ISSN： 1349-2608  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 一般的にXPS測定では,測定時の時間経過に伴う表面変化(試料損傷)が少ないとされているが,試料によっては多大な損傷を受け,得られる測定結果に影響を与える。試料損傷は,特に高分子材料で起こり易く,その程度は材料,装置,測定条件により異なる。本研究では,PFDT-Auを標準試料とし,PVC,PTFE,nylon6,nylon66,PET,PMMAについてXPS測定時の試料損傷について検討した。その結果,対象とした高分子材料はすべて試料損傷が起こることが確認された。(著者抄録)

シソーラス用語： *照射損傷 ,  *X線光電子分光法 ,  ポリ塩化ビニル ,  ポリテトラフルオロエチレン ,  ナイロン6 ,  ナイロン66 ,  ポリエチレンテレフタレート ,  ポリメタクリル酸メチル ,  *高分子
準シソーラス用語： PET【重合体】 ,  PMMA

分類 (2件)： その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (4件)：

• 當麻肇:表面科学,25(4),192(2004)
• M. Sato, H. Watanabe, T.Furusawa, N.Suzuki:J. surf. Anal, 12(2),183(2005)
• F.Kurayama,et al.:J. surf. Anal,16(1),2(2009)
• 日本表面科学会編:X線光電子分光法,丸善(1998)

タイトルに関連する用語 (4件)： XPS ,  試料 ,  損傷 ,  研究