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J-GLOBAL ID：201302296127620521   整理番号：13A1222984

制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法

A Method of Deterministic LFSR Seed Generation for Scan-Based BIST

著者 (3件)： 森保孝憲 (大分大 大学院工学研究科) ,  大竹哲史 (大分大 工) ,  大竹哲史 (JST-CREST)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 113  号： 104(DC2013 10-15)  ページ： 7-12  発行年： 2013年06月14日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する。従来のシード生成法は,テスト対象故障に対してまずスキャンテストパターンを求め,それをLFSRのシードに変換するという方法であった。しかし,この方法ではスキャンテストパターンがシードに変換できる保証はなく,対象故障を検出できない場合があるといった問題があった。提案手法では,LFSRの構造を時間的に展開することでスキャンテストパターンをシードの関数として表現できることに着目し,これをテスト生成の際に制約として用いることで直接シードを求める。具体的には,その関数を表現する組合せ回路を設計し,それをシード生成対象回路に疑似的に接続し,対象故障に対してテスト生成することで直接シードを生成する。本稿ではさらに,ITC’99ベンチマーク回路を用いた実験により,提案手法の有効性を示す。(著者抄録)

シソーラス用語： 制約条件 ,  *回路試験 ,  *BIST ,  シフトレジスタ ,  組合せ回路 ,  ベンチマーク ,  冗長性
準シソーラス用語： LFSR ,  *スキャンテスト ,  *テスト生成 ,  ディペンダブルコンピューティング

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 制約 ,  テスト生成 ,  スキャン ,  BIST ,  LFSR