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J-GLOBAL ID：201302298089391834   整理番号：13A0988844

亀裂/穴のある高温超伝導薄膜における遮蔽電流密度を解析する仮想電圧法

Virtual Voltage Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film With Cracks/Holes

著者 (3件)： KAMITANI Atsushi (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  TAKAYAMA Teruou (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  IKUNO Soichiro (Tokyo Univ. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 49  号： 5  ページ： 1877-1880  発行年： 2013年05月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 高温超伝導 ,  *超伝導薄膜 ,  *臨界電流密度 ,  *有限要素法 ,  積分微分方程式 ,  Newton-Raphson法 ,  境界値問題 ,  数値解析 ,  シミュレーション ,  膜厚 ,  境界条件 ,  *亀裂 ,  空間分布
準シソーラス用語： 遮蔽電流密度

分類 (1件)： 超伝導材料  (BM04041W)

タイトルに関連する用語 (6件)： 亀裂 ,  超伝導薄膜 ,  遮蔽 ,  電流密度 ,  解析 ,  仮想