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J-GLOBAL ID：201302299950807865   整理番号：13A0642455

モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法

Temperature and voltage estimation considering manufacturing variability for a monitoring circuit

著者 (10件)： 三宅庸資 (九州工大) ,  三宅庸資 (JST-CREST) ,  津森渉 (九州工大) ,  津森渉 (JST-CREST) ,  佐藤康夫 (九州工大) ,  佐藤康夫 (JST-CREST) ,  梶原誠司 (九州工大) ,  梶原誠司 (JST-CREST) ,  三浦幸也 (首都大学東京) ,  三浦幸也 (JST-CREST)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 429(DC2012 80-90)  ページ： 55-60  発行年： 2013年02月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： VLSIの微細化に伴い,劣化による回路遅延の増加が問題となっている。劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで高精度な遅延測定を行うことが有効であるが,その際には,温度や電圧の遅延への影響を考慮する必要がある。チップ内の温度と電圧は,リングオシレータで構成される温度・電圧モニタ回路を用いて推定する方法が提案されている。モニタ回路における製造プロセスのバラツキはリングオシレータの周波数に大きな影響を及ぼすため,高精度な温度・電圧推定を行うには製造バラツキの影響を考慮する必要がある。本論文では,製造バラツキが温度・電圧推定に与える影響を低減するため,モニタ回路における製造バラツキの影響を考慮した温度・電圧推定手法について述べる。(著者抄録)

シソーラス用語： *分散【variance】 ,  劣化 ,  *超LSI ,  精密化 ,  遅れ ,  リング発振器 ,  温度測定 ,  電圧測定 ,  監視 ,  *製造ばらつき
準シソーラス用語： 微細化

分類 (2件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： モニタ回路 ,  製造バラツキ ,  推定 ,  手法