研究者

J-GLOBAL ID：201001017108332130 更新日: 2022年07月24日

佐藤康夫

サトウヤスオ | Sato Yasuo

研究分野 (3件)：電子デバイス、電子機器 , 情報ネットワーク , 計算機システム

研究キーワード (2件)： VLSIの設計とテスト , 電気工学

競争的資金等の研究課題 (1件)：

2008 - フィールド高信頼化のための回路・システム機構

MISC (13件)：

高松雄三, 佐藤康夫, 高橋寛, 樋上善信, 山崎浩二. サーベイ論文論理回路の故障診断法-外部出力応答に基く故障箇所指摘法の発展-. 電子情報通信学会論文誌. 2011. J94-D. 1
Shinji OKU, Seiji KAJIHARA, Yasuo SATO, Kohei MIYASE, Xiaoqing WEN. On Delay Test Quality for Test Cubes. IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology. 2010. 3. 283-291
Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato. Post-BIST fault diagnosis for multiple faults. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2008. E91D. 3. 771-775
梶原誠司, 佐藤康夫. 論理回路に対する遅延テスト手法. IEICE Fundamentals Review. 2008. 1. 3. 71-77
Y Sato, S Hamada, T Maeda, A Takatori, S Kajihara. A statistical quality model for delay testing. IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS. 2006. E89C. 3. 349-355

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書籍 (1件)：

LSIテスティング-ハンドブック-
株式会社オーム社 2008 ISBN:9784274206320

学歴 (2件)：

東京大学理学部数学科
東京都立大学工学研究科電気工学専攻

学位 (1件)：

博士

経歴 (6件)：

2006 - 2009 九州工業大学情報工学研究院客員教授
2006 - 2008 早稲田大学非常勤講師
1978 - 2008 (株)日立製作所
2003 - 2005 (株)半導体理工学研究センター
2004 - - 九州工業大学非常勤講師

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所属学会 (3件)：

LSIテスティング学会 , 電子情報通信学会 , The Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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