特許
J-GLOBAL ID：201303012653622127
微量金属の測定方法及び測定装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人サクラ国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-171335
公開番号（公開出願番号）：特開2013-036788
出願日： 2011年08月04日
公開日（公表日）： 2013年02月21日
要約：
【課題】液中に微量に存在する金属成分を、前処理を行わず、安価で簡便な操作により迅速に微量金属を測定可能とした微量金属の測定方法及び測定装置を提供する。【解決手段】微量の金属成分を含む濃厚アルカリ溶液等からなる測定対象液体を必要に応じて加温するヒーター2と、該測定対象液体を通液させる測定用流路を有するフローセル3と、フローセル3の測定用流路内に設けられた作用極、対極及び参照極からなる測定用電極を用いてストリッピングボルタンメトリー法による電気化学測定を行い、得られたデータに基づいて測定対象液体中の金属濃度を求める電気化学測定手段4と、を有し、測定用流路の短径を測定対象液体の濃度拡散層厚と所定の関係となるように通液可能とする微量金属の測定装置1。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
微量金属成分を含む濃厚アルカリ溶液、濃厚塩溶液、溶融塩又は導電性ポリマー溶液からなる測定対象液体において、測定用流路に前記測定対象液を通液させる工程と、
前記測定用流路における前記測定対象液体の通液中に、前記測定対象液体を作用極、対極及び参照極からなる測定用電極と接触させて微量金属成分に対してストリッピングボルタンメトリー法による電気化学測定を行う工程と、
前記電気化学測定により得られたデータに基づいて前記測定対象液体の微量金属成分の濃度を求める工程と、を有する微量金属の測定方法であって、
前記測定用流路の短径が、次の式(1)
δM(x)=Sc-1/3×δ(x) ・・・(1)
(式中、δM(x)は電極末端における濃度拡散層厚(m)、δ(x)は電極末端における境界層厚(m)、Scはシュミット数を表わす。なお、δM(x)及びδ(x)は共にxの関数であり、xは流れの始点からの電極末端までの流下方向距離(m)である。)で求められる濃度拡散層厚(δM(x))以下であることを特徴とする微量金属の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N27/48 301
, G01N27/46 306
