特許

J-GLOBAL ID：201303014710095999

光学式検出装置

発明者： 山本 英二
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (3件)： 村松 貞男 ,  河野 哲 ,  風間 鉄也
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-182047
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004487
特許番号：特許第4812189号
出願日： 2001年06月15日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 対象物に光を照射する発光素子と、 前記対象物において反射、透過又は回折された前記発光素子からの光を検出する光検出器と、 前記発光素子から前記対象物を経由し前記光検出器に至る光路中に配置された、第1及び第2の透光部材とを有し、 前記第1の透光部材及び前記第2の透光部材によって、前記発光素子の射出面から前記対象物の被照射部分までの光学距離と前記対象物の被照射部分から前記光検出器の検出面までの光学距離とが略等しくなるように構成されていることを特徴とする光学式検出装置。

IPC (3件)：

G01D 5/347 ( 200 6.01) ,  G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G01D 5/38 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01D 5/347 110 S ,  G01B 11/00 G ,  G01D 5/38 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 集積されたオプトロニック薄膜センサ及びその製造方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-612707   出願人：ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング
• 光学式変位センサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-006411   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 光学式エンコーダ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-058456   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平1-284716