特許
J-GLOBAL ID:201303023915065595

プロセス入出力装置診断システム、プロセス入出力制御装置、および、プロセス入出力装置診断方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 菊池 治 ,  井澤 彪
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-031732
公開番号(公開出願番号):特開2013-168859
出願日: 2012年02月16日
公開日(公表日): 2013年08月29日
要約:
【課題】プラント機器の運転中にプロセス入出力装置の健全性について検証し、プロセス入出力装置の精度を詳細に提示する。【解決手段】参照信号読取器20は、読取要求に応じて、プラント機器2からのアナログ信号を読み取り、アナログ信号を出力する。プロセス入出力装置10は、読取要求に応じて、プラント機器2からのアナログ信号を読み取り、アナログ信号が表すアナログ値をA/D変換によりデジタル値に変換し、デジタル値を表すデジタル信号を出力する。診断装置30は、読取要求を出力し、参照信号読取器20からのアナログ信号が表すアナログ値から基準デジタル値を算出し、プロセス入出力装置10からのデジタル信号が表すデジタル値と基準デジタル値との誤差を算出し、誤差が基準範囲内にあるか否かを表す判定結果を生成し、誤差と判定結果と判定基準情報とを含む診断情報を出力装置34に出力する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
アナログ値を表すアナログ信号を出力するプラント機器と、 前記プラント機器に接続され、参照信号読取器とプロセス入出力装置と診断装置とを備えたプロセス入出力制御装置と、 を具備し、 前記参照信号読取器は、読取要求に応じて、前記プラント機器からの前記アナログ信号を読み取り、前記アナログ信号を出力し、 前記プロセス入出力装置は、 前記読取要求に応じて、前記プラント機器からの前記アナログ信号を読み取るプロセス入力部と、 前記アナログ信号が表す前記アナログ値をアナログ/デジタル(A/D)変換によりデジタル値に変換するA/D変換部と、 前記デジタル値を表すデジタル信号を前記診断装置に出力するプロセス出力部と、 を具備し、 前記診断装置は、 前記読取要求を前記プロセス入出力装置および前記参照信号読取器に出力し、前記参照信号読取器から前記アナログ信号を受け取り、前記プロセス入出力装置から前記デジタル信号を受け取る取得部と、 前記アナログ信号が表す前記アナログ値から基準デジタル値を算出し、前記デジタル信号が表す前記デジタル値と前記基準デジタル値との誤差を算出し、判定結果を生成する精度判定部と、 前記誤差と前記判定結果と判定基準情報とを含む診断情報を出力装置に出力する出力制御部と、 を具備し、 前記判定結果は、前記誤差が予め設定された下限値から予め設定された上限値までの基準範囲内にあることを示す基準範囲内情報と、前記誤差が前記上限値以上であることを示す上限逸脱情報と、前記誤差が前記下限値以下であることを示す下限逸脱情報と、のいずれかを表し、 前記診断情報の前記判定基準情報は、前記下限逸脱情報と、前記基準範囲内情報と、前記上限逸脱情報と、を含む、 ことを特徴とするプロセス入出力装置診断システム。
IPC (1件):
H03M 1/10
FI (1件):
H03M1/10 C
Fターム (4件):
5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022CB06 ,  5J022CF01
引用特許:
審査官引用 (5件)
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