特許
J-GLOBAL ID：200903074117394866
コンデンサ素子の製造方法及びその成形装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人共生国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-346273
公開番号（公開出願番号）：特開2008-016804
出願日： 2006年12月22日
公開日（公表日）： 2008年01月24日
要約：
【課題】計測したコンデンサ素子の重量に基づいて、次に成形されるコンデンサ素子のタンタル粉末の投入量が、自動補正されるようにしたコンデンサ素子の製造方法及びその製造装置を提供する。【解決手段】本発明によるコンデンサ素子の製造方法は、コンデンサ素子の成形装置に、電子天秤でコンデンサ素子の重量を測定する段階と、測定した前記コンデンサ素子の重量がHH、HI、OK、LO、LLのどの範囲に入るか判別する段階と、HH、LLの場合を不良品とし、HI、OK、LOの場合を良品として分離する段階と、HH、HI、LO、LLの場合、コンデンサ成形粉末の金型への投入量を補正率に基づいて増量または減量する段階とが備えられる。【選択図】図11
請求項（抜粋）：
コンデンサ成形粉末を金型に投入し押し固めて作るコンデンサ素子の成形方法において、
前記コンデンサ素子を成形する毎に、その重量を電子天秤で測定する段階と、
前記コンデンサ素子の良品の重量が、第2上限値と第2下限値の範囲にあり、前記第2上限値と前記第2下限値の範囲内に第1上限値と第1下限値が定められ、前記コンデンサ素子の重量が、(a)前記第2上限値を超えた範囲にあるか、(b)前記第1上限値と前記第2上限値の間にあるか、(c)前記第1上限値と前記第1下限値の間にあるか、(d)前記第1下限値と前記第2下限値の間にあるか、(e)前記第2下限値を超えた範囲にあるかを判別する段階と、
前記コンデンサ素子の重量が、(a)前記第2上限値を超えた範囲にあるか、(e)前記第2下限値を超えた範囲にある場合を不良品、前記コンデンサ素子の重量が、(b)前記第1上限値と前記第2上限値の間にあるか、(c)前記第1上限値と前記第1下限値の間にあるか、(d)前記第1下限値と前記第2下限値の間にある場合を良品として分離する段階と、
前記コンデンサ素子の重量が、(a)前記第2上限値を超えた範囲にあるか、(b)前記第1上限値と前記第2上限値の間にあるか、(d)前記第1下限値と前記第2下限値の間にあるか、(e)前記第2下限値を超えた範囲にある場合、前記タンタル粉末の前記金型への投入量を、あらかじめ設定した補正率に基づいて増量または減量する段階とが備えられていることを特徴とするコンデンサ素子の製造方法。
IPC (5件)：
H01G 9/052
, H01G 9/00
, H01G 13/00
, B22F 3/02
, B22F 5/00
H01G9/05 K
, H01G9/24 C
, H01G13/00 371Z
, H01G13/00 361A
, B22F3/02 G
, B22F5/00 H
4K018AA40
, 4K018AB01
, 4K018BA03
, 4K018BA20
, 4K018CA19
, 4K018KA39
, 5E082AB09
, 5E082LL22
, 5E082MM19
, 5E082MM22
出願人引用 (1件)
審査官引用 (6件)
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