特許
J-GLOBAL ID：201303028876982161
クロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-096837
公開番号（公開出願番号）：特開2013-224858
出願日： 2012年04月20日
公開日（公表日）： 2013年10月31日
要約：
【課題】多数の化合物に対するMRM測定のパラメータを決めるためのプロダクトイオンスキャン測定の測定条件設定を簡便に且つ正確に行えるようにする。【解決手段】分析者は、測定条件テーブル設定用画面100内に配置された化合物情報テーブル101上でMRM測定したい化合物を選択してテーブル作成を指示する。すると、データ処理部は、選択された化合物についての情報を収集し、各化合物の保持時間の前後に所定の時間幅を持たせた時間範囲を測定時間範囲とし、各化合物に対応付けられたm/zをプリカーサイオンのm/zとし、さらにプリカーサイオンm/zからプロダクトイオンスキャンのm/z範囲を求め、それらを整理した測定条件テーブル103を自動的に作成して表示する。分析者は必要に応じて各数値を適宜修正し測定条件テーブルを完成させる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
試料に含まれる各種成分をクロマトグラフ部により時間方向に分離した上でタンデム四重極型質量分析部に導入してMS/MS分析を行うクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置であって、プロダクトイオンスキャン測定が実行可能であるクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置において、
a)分析対象である化合物についての、化合物名、化合物の保持時間、及び、化合物を特徴付ける質量電荷比、を情報として含む化合物情報テーブルが記憶された化合物情報記憶手段と、
b)MRM測定パラメータを決定するためにプロダクトイオンスキャン測定を実行するときの測定条件として、プロダクトイオンスキャン測定を実行する測定時間範囲、該プロダクトイオンスキャン測定時のプリカーサイオン質量電荷比、及び、該プロダクトイオンスキャン測定時に走査される質量電荷比範囲、を少なくとも定めた測定条件テーブルを作成する手段であって、前記化合物情報記憶手段に記憶されている化合物情報テーブルに登録されている全ての化合物又は一部の化合物について、各化合物に対応付けられた質量電荷比を前記プリカーサイオン質量電荷比とし、該プリカーサイオンの質量電荷比に基づいて算出した質量電荷比範囲を前記走査される質量電荷比範囲とし、さらに、各化合物に対応付けられた保持時間に対しその前後にそれぞれ規定の時間幅を設定した時間範囲を前記測定時間範囲とすることで、測定条件テーブルを作成する測定条件テーブル作成手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフタンデム四重極型質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (4件)：
G01N27/62 Y
, H01J49/42
, G01N27/62 C
, G01N27/62 L
2G041CA01
, 2G041EA06
, 2G041GA03
, 2G041GA09
, 2G041HA01
, 2G041LA20
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
