特許
J-GLOBAL ID：201303030173898023

位相算出装置及び位相算出装置の試験方法

発明者：
朝野 茂高

朝野 茂高 について


出願人/特許権者：
富士通セミコンダクター株式会社

富士通セミコンダクター株式会社 について


代理人 (2件)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-281696
公開番号（公開出願番号）：特開2002-093063
特許番号：特許第4717991号
出願日： 2000年09月18日
公開日（公表日）： 2002年03月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 入力信号を所定のゲインにて増幅した信号を出力するアンプ回路と、 1つの判定レベルが設定され、該1つの判定レベルと前記アンプ回路の出力信号とを比較し、該出力信号を2値のデジタル信号に変換するコンパレータと、 前記2値のデジタル信号の位相を算出する算出回路とを備え、 前記アンプ回路の出力信号が前記判定レベルを越えるように該アンプ回路のゲインを設定し、 前記入力信号は、記録媒体に記録された位相算出領域内の複数の領域から読み出される異なる位相の信号であり、 前記算出回路は、前記2値のデジタル信号をフーリエ変換することにより前記増幅した信号の基本波成分を抽出し、当該基本波成分の位相を算出することを特徴とする位相算出装置。
IPC (1件)：
G11B 20/14 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G11B 20/14 351 A
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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