画像処理システム、処理方法及びプログラム

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：大塚康徳 , 高柳司郎 , 大塚康弘 , 木村秀二 , 下山治 , 永川行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-015935
公開番号（公開出願番号）：特開2013-153884
出願日： 2012年01月27日
公開日（公表日）： 2013年08月15日
要約：

【課題】被検眼が疾病であるか否かの判定基準となる指標とともに、診断対象となる被検眼の形状特徴量を表示できるようにした技術を提供する。【解決手段】画像処理システムは、被検眼の断層画像から網膜の湾曲の程度を表す情報を取得する解析手段と、前記解析の結果に基づいて前記被検眼のカテゴリを取得する取得手段とを具備する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被検眼の断層画像から網膜の湾曲の程度を表す情報を取得する解析手段と、前記解析の結果に基づいて前記被検眼のカテゴリを取得する取得手段とを具備することを特徴とする画像処理システム。

IPC (3件)：

A61B 3/10 , A61B 3/14 , A61B 3/12

FI (4件)：

A61B3/10 R , A61B3/14 A , A61B3/12 E , A61B3/14 M

引用特許：

出願人引用 (6件)

光干渉断層装置、方法、およびシステム
公報種別：公表公報出願番号：特願2011-501911 出願人：ドヘニーアイインスティテュート
画像処理装置、画像処理方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-269186 出願人：キヤノン株式会社
画像撮影装置及び画像解析プログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-243485 出願人：国立大学法人岐阜大学, タック株式会社

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審査官引用 (6件)

眼底観察装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2010-223125 出願人：株式会社ニデック
光干渉断層装置、方法、およびシステム
公報種別：公表公報出願番号：特願2011-501911 出願人：ドヘニーアイインスティテュート
画像処理装置、画像処理方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-269186 出願人：キヤノン株式会社

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引用文献：

出願人引用 (5件)

https://web.archive.org/web/20091227225217/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_01.html, 20091227
https://web.archive.org/web/20100102011843/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_04.html, 20100102
http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/SMIS_CHRT011.html

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審査官引用 (5件)

https://web.archive.org/web/20091227225217/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_01.html, 20091227
https://web.archive.org/web/20100102011843/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_04.html, 20100102
http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/SMIS_CHRT011.html

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