特許
J-GLOBAL ID：201003094381391583

画像処理装置及びその制御方法

発明者：
岩瀬 好彦

岩瀬 好彦 について

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内山 晋二

内山 晋二 について

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佐藤 清秀

佐藤 清秀 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-048514
公開番号（公開出願番号）：特開2010-200918
出願日： 2009年03月02日
公開日（公表日）： 2010年09月16日
要約：
【課題】被写体を構成する層の正常構造を精度良く推定する仕組みを提供する。【解決手段】被写体の断層画像を取得する画像取得部210と、画像取得部210で取得した断層画像から被写体を構成する層を検出する層検出部221と、層検出部221で検出された層と、当該層の病変によって変形する特徴とに基づいて、当該層の正常構造を推定する正常構造推定部222を具備する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
被写体の断層画像を取得する画像取得手段と、 前記断層画像から前記被写体を構成する層を検出する層検出手段と、 前記層検出手段で検出された層と、当該層の病変によって変形する特徴とに基づいて、当該層の正常構造を推定する推定手段と を有することを特徴とする画像処理装置。
IPC (2件)：
A61B 3/12 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
A61B3/12 E ,  G06T1/00 290B
Fターム (12件)：
5B057AA09 ,  5B057BA02 ,  5B057BA03 ,  5B057BA07 ,  5B057BA11 ,  5B057CH01 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DB09 ,  5B057DC01 ,  5B057DC04
引用特許：
審査官引用 (6件)
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