特許
J-GLOBAL ID:201303040516188502

FBGセンサの計測方法及び計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人山田特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-198052
公開番号(公開出願番号):特開2013-061162
出願日: 2011年09月12日
公開日(公表日): 2013年04月04日
要約:
【課題】広帯域光源またはレーザ光でひずみ信号及びAE信号を計測し得るFBGセンサの計測方法及び計測装置を提供する。【解決手段】FBGセンサ11に光を入力する広帯域光源13及び光ファイバアンプ14と、FBGセンサ11からの光を切替可能にする第一の光スイッチ16と、一方の光を光ファイバアンプ14に戻すアンプ側の光カプラ17と、第一の光スイッチ16の光とアンプ側の光カプラ17の光とを選択的に入射させる第二の光スイッチ18と、第二の光スイッチ18からの光を分割する計測側の光カプラ20と、計測側の光カプラ20で分割した一方の光を計測するブラッグ波長計測手段21と、計測側の光カプラ20で分割した他方の光を計測するAE計測用の光電変換器22とを備え、広帯域光源13と、光ファイバアンプ14のファイバリングレーザを選択可能にする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
広帯域光源と光ファイバアンプとを選択してFBGセンサに光を入力し、 前記広帯域光源を選択した際には、FBGセンサからの光を、第一の光スイッチ及び第二の光スイッチを介して計測側の光カプラにより分割し、更に計測側の光カプラで分割した一方の光をブラッグ波長計測手段によりひずみ信号として計測し、 前記光ファイバアンプを選択した際には、FBGセンサからの光を、第一の光スイッチ及びアンプ側の光カプラを介して光ファイバアンプに戻し、光の周回に伴う自己励起によりファイバリングレーザにしてアンプ側の光カプラから出射し、出射した光を、第二の光スイッチを介して計測側の光カプラにより分割し、更に計測側の光カプラで分割した一方の光をブラッグ波長計測手段によりひずみ信号として計測すると共に、計測側の光カプラで分割した他方の光をAE計測用の光電変換器によりAE信号として計測する、 ことを特徴とするFBGセンサの計測方法。
IPC (3件):
G01B 11/16 ,  G01N 29/00 ,  G01N 29/14
FI (3件):
G01B11/16 G ,  G01N29/00 501 ,  G01N29/14
Fターム (12件):
2F065AA65 ,  2F065FF48 ,  2F065FF63 ,  2F065GG24 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ33 ,  2G047BA05 ,  2G047BC16 ,  2G047CA04
引用特許:
出願人引用 (4件)
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