特許
J-GLOBAL ID：201303043731812240
検出装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 須澤 修
, 宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-104461
公開番号（公開出願番号）：特開2013-231685
出願日： 2012年05月01日
公開日（公表日）： 2013年11月14日
要約：
【課題】 比較的低い濃度の被測定対象であっても、広範囲の濃度の被測定試料を検出することができる検出装置を提供すること。【解決手段】 検出装置10は、第1光源11Aと、第2光源11Bと、第1光源からの光が入射され、被測定試料を検出および/または同定する光を出射する第1検出部12Aと、第2光源からの光が入射され、被測定試料を検出および/または同定する光を出射する第2検出部12Bと、を有する。第1検出部は、第1密度で誘電体16上にて第1金属粒子17が形成され、第2検出部は、第1密度よりも低い第2密度で誘電体16上にて第2金属粒子18が形成されている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
第1光源と、
第2光源と、
前記第1光源からの光が入射され、被測定試料を検出および/または同定する光を出射する第1検出部と、
前記第2光源からの光が入射され、前記被測定試料を検出および/または同定する光を出射する第2検出部と、
を有し、
前記第1検出部は、第1密度で誘電体上にて第1金属粒子が形成され、
前記第2検出部は、前記第1密度よりも低い第2密度で前記誘電体上にて第2金属粒子が形成されていることを特徴とする検出装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (31件)：
2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB01
, 2G059BB04
, 2G059BB11
, 2G059BB12
, 2G059CC12
, 2G059CC13
, 2G059CC16
, 2G059DD12
, 2G059EE03
, 2G059EE12
, 2G059FF04
, 2G059FF12
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059GG04
, 2G059JJ03
, 2G059JJ11
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK02
, 2G059KK03
, 2G059LL02
, 2G059LL04
, 2G059MM01
, 2G059MM04
, 2G059MM05
, 2G059MM10
, 2G059MM12
, 2G059MM18
