特許
J-GLOBAL ID：201303053846734010

眼科撮影装置

発明者：
村瀬 祐二

村瀬 祐二 について


出願人/特許権者：
株式会社ニデック

株式会社ニデック について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-047175
公開番号（公開出願番号）：特開2013-180126
出願日： 2012年03月02日
公開日（公表日）： 2013年09月12日
要約：
【課題】 異なる撮影条件にて容易に断層撮影を行う。【解決手段】 被検眼の断層画像を得るための撮像光学系と、被検眼の正面画像を得るための観察光学系と、モニタに表示された正面画像上で断層画像の取得位置を予め設定すると共に、設定された取得位置にて断層画像を取得する際の測定光の走査条件を設定可能な設定手段と、観察光学系によって取得されるライブ動画像に基づいて走査手段の駆動を制御し、被検眼上の取得位置に第1の走査条件にて測定光をトラッキングし、第1の走査条件でトラッキングが実行された後、測定光の走査条件が変更されると、第1の走査条件にてトラッキングを行う際に設定手段によって予め設定された被検眼上の取得位置に第1の走査条件とは異なる第2の走査条件にて測定光をトラッキングするトラッキング制御手段と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光源から発せられた測定光を被検眼上で走査するための走査手段を有し、被検眼の断層画像を得るための撮像光学系と、 被検眼からの反射光を受光する受光素子を有し、前記受光素子からの受光信号に基づいて被検眼の正面画像を得るための観察光学系と、 被検眼の正面画像を表示するモニタと、 前記モニタに表示された前記正面画像上で前記断層画像の取得位置を予め設定すると共に、設定された前記取得位置にて断層画像を取得する際の測定光の走査条件を設定可能な設定手段と、 前記観察光学系によって取得されるライブ動画像に基づいて前記走査手段の駆動を制御し、前記設定手段によって設定された被検眼上の取得位置に第1の走査条件にて測定光をトラッキングし、 第1の走査条件でトラッキングが実行された後、前記設定手段によって測定光の走査条件が変更されると、第1の走査条件にてトラッキングを行う際に前記設定手段によって予め設定された被検眼上の取得位置に第1の走査条件とは異なる第2の走査条件にて測定光をトラッキングするトラッキング制御手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
IPC (2件)：
A61B 3/10 ,  A61B 3/14
FI (4件)：
A61B3/10 R ,  A61B3/14 F ,  A61B3/14 B ,  A61B3/14 M
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)

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