特許

J-GLOBAL ID：201303061236309263

低圧微分移動度分光計を備えた質量分析システム

発明者： コービー, トーマス アール. ,  シュナイダー, ブラッドリー ビー.
出願人/特許権者： エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド ,  アプライド バイオシステムズ (カナダ) リミテッド
代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-551316
公開番号（公開出願番号）：特表2013-518396
出願日： 2011年01月28日
公開日（公表日）： 2013年05月20日
要約：

質量分析システムには、低圧分離領域および微分移動度分光計が含まれる。微分移動度分光計には、イオンフロー経路を画定する少なくとも一対のフィルタ電極が含まれ、このイオンフロー経路において、フィルタ電極は、サンプルイオンのイオン移動度特性に基づいてサンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成する。微分移動度分光計にはまた、DCおよびRF電圧をフィルタ電極の少なくとも1つに供給して、電界を生成する電圧源と、低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るイオン入口と、サンプルイオンの選択された部分を出力するイオン出口と、が含まれる。質量分光計は、サンプルイオンの選択された部分のいくらかまたは全てを受け取る。

請求項（抜粋）：

低圧分離領域と、 微分移動度分光計であって、 少なくとも一対のフィルタ電極であって、前記フィルタ電極間にイオンフロー経路を画定し、サンプルイオンの移動度特性に基づいて前記サンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成するフィルタ電極と、 前記フィルタ電極の少なくとも1つにRFおよびDC電圧を供給して前記電界を生成する電圧源と、 前記低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るためのイオン入口と、 前記サンプルイオンの前記選択された部分を出力するためのイオン出口と、含む微分移動度分光計と、 前記サンプルイオンにおける前記選択された部分のいくらかまたは全てを受け取るための質量分光計と、 を含む質量分析システム。

IPC (4件)：

H01J 49/40 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/62

FI (4件)：

H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  G01N27/62 B

Fターム (7件)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041EA05 ,  5C038FF07 ,  5C038FF13 ,  5C038GG08 ,  5C038GH05

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 質量分析計
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2007-554650   出願人：マイクロマスユーケーリミテッド
• サンプルの分析を改善するための分散特性、サンプル解離及び/又は圧力制御を用いた移動度ベースの装置及び方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2006-541718   出願人：サイオネックスコーポレイション
• 質量分析のための化学ノイズの低減
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2008-553548   出願人：アプライドバイオシステムズインコーポレイテッド, エムディーエスサイエックス,インコーポレイテッド