特許

J-GLOBAL ID：201303070136032255

タイミング発生器及び試験装置

発明者： 須田 昌克 ,  岡安 俊幸 ,  佐藤 新哉
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 龍華 明裕
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-059019
公開番号（公開出願番号）：特開2002-261592
特許番号：特許第4866509号
出願日： 2001年03月02日
公開日（公表日）： 2002年09月13日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 タイミングを発生するタイミング発生器であって、 矩形波信号が入力され、前記矩形波信号を遅延させた第1遅延信号を出力する第1可変遅延回路部と、 前記第1遅延信号が入力され、前記第1遅延信号を遅延させた第2遅延信号を前記タイミングとして出力する第2可変遅延回路部と、 前記第2可変遅延回路部における遅延量を制御する第2遅延量制御部とを備え、 前記第2遅延量制御部は、 前記第2可変遅延回路部における遅延量を制御する第2遅延量設定データが与えられ、前記矩形波信号の変化点に基づく第1タイミングまで、前記第2遅延量設定データを保持して出力する第1保持回路と、 前記第1保持回路が出力した前記第2遅延量設定データを受け取り、前記第1遅延信号の変化点に基づく第2タイミングまで、前記第2遅延量設定データを保持して、前記第2可変遅延回路部における遅延量を制御する第2保持回路と を有することを特徴とするタイミング発生器。

IPC (3件)：

H03K 5/14 ( 200 6.01) ,  G01R 31/28 ( 200 6.01) ,  G01R 31/3183 ( 200 6.01)

FI (3件)：

H03K 5/14 ,  G01R 31/28 M ,  G01R 31/28 Q

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 半導体デバイス試験装置、タイミング発生器、半導体デバイス試験方法及びタイミング発生方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-077907   出願人：株式会社アドバンテスト
• 半導体試験装置用校正データの転送装置及びその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-107939   出願人：株式会社アドバンテスト