特許
J-GLOBAL ID：201303074515328507

濃度定量装置、光吸収係数算出方法、濃度定量方法、光吸収係数の算出を行うプログラム及び濃度の算出を行うプログラム

発明者：
西田 和弘

西田 和弘 について

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清水 孝一

清水 孝一 について

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加藤 祐次

加藤 祐次 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について

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国立大学法人北海道大学

国立大学法人北海道大学 について


代理人 (2件)： 志賀 正武 ,  大浪 一徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-211688
公開番号（公開出願番号）：特開2013-072736
出願日： 2011年09月27日
公開日（公表日）： 2013年04月22日
要約：
【課題】目的の層以外の層によるノイズの影響を軽減する濃度定量装置を提供する。【解決手段】光路長分布記憶手段102と、時間分解波形記憶手段103と、光路長バラツキ記憶手段104と、照射手段105と、受光手段106と、光強度取得手段107と、光路長取得手段109と、光強度モデル取得手段110と、光強度取得手段107が取得した光強度と、光路長取得手段109が取得した複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長と、光強度モデル取得手段110が取得した光強度モデルと、光路長バラツキ記憶手段104に記憶された複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長バラツキと、に基づいて、任意の層の光吸収係数を算出する光吸収係数算出手段111と、光吸収係数算出手段111が算出した光吸収係数に基づいて、任意の層における目的成分の濃度を算出する濃度算出手段113と、を含む。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数の光散乱媒質の層から形成される観測対象のうち、任意の層における目的成分の濃度を定量する濃度定量装置であって、 前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層における伝搬光路長分布のモデルを記憶する光路長分布記憶手段と、 前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の時間分解波形のモデルを記憶する時間分解波形記憶手段と、 前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層における光路長のバラツキを記憶する光路長バラツキ記憶手段と、 前記観測対象に短時間パルス光を照射する照射手段と、 前記短時間パルス光が前記観測対象によって後方散乱した光を受光する受光手段と、 前記照射手段が短時間パルス光を照射した時刻以降の所定の時刻において前記受光手段が受光した光の強度を取得する光強度取得手段と、 前記光路長分布記憶手段から、前記伝搬光路長分布のモデルの前記所定の時刻における、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長を取得する光路長取得手段と、 前記時間分解波形記憶手段から、前記短時間パルス光の時間分解波形のモデルの前記所定の時刻における光の強度を取得する光強度モデル取得手段と、 前記光強度取得手段が取得した光強度と、前記光路長取得手段が取得した前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長と、前記光強度モデル取得手段が取得した光強度モデルと、前記光路長バラツキ記憶手段に記憶された前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長バラツキと、に基づいて、前記任意の層の光吸収係数を算出する光吸収係数算出手段と、 前記光吸収係数算出手段が算出した光吸収係数に基づいて、前記任意の層における前記目的成分の濃度を算出する濃度算出手段と、 を含むことを特徴とする濃度定量装置。
IPC (1件)：
G01N 21/35
FI (1件)：
G01N21/35 Z
Fターム (17件)：
2G059AA01 ,  2G059AA06 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF04 ,  2G059FF06 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059MM01 ,  2G059MM12 ,  4C038KK10 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KX02
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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