特許
J-GLOBAL ID:201303076326440323
画像形成装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
倉橋 暎
, 倉橋 健太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-036320
公開番号(公開出願番号):特開2013-210622
出願日: 2013年02月26日
公開日(公表日): 2013年10月10日
要約:
【課題】実際に帯電器の使用量が少ないにもかかわらず帯電器が劣化してしまうことを抑制することのできる画像形成装置を提供する。【解決手段】画像形成装置の電源が投入されてから画像形成開始信号が入力される前に、少なくとも1つ且つ放電電流制御のフル制御におけるテストバイアスの種類よりも少ない数のチェックバイアスを帯電器に印加する放電電流制御の簡易制御を実行し、チェックバイアスを印加した際に検知器により検知された電流に基づき、放電電流制御のフル制御を実行することにより帯電バイアスを設定する第1のモードと、放電電流制御のフル制御を実行することなく放電電流制御のフル制御で決定された帯電バイアスを設定する第2のモードとを含む複数のモードの中から1つを選択する。【選択図】図6
請求項(抜粋):
画像形成装置において、
感光体と、
前記感光体に画像を形成するに際して前記感光体を帯電する帯電器と、
前記帯電器に直流電圧と交流電圧とを重畳した帯電バイアスを印加するバイアス印加器と、
前記帯電器に流れる電流を検知する検知器と、
互いにピーク間電圧が異なる複数のテストバイアスを前記帯電器に印加するテストモードにおいて、前記複数のテストバイアスを印加した際に前記検知器により検知された電流に基づき帯電バイアスのピーク間電圧を調整する調整器と、
前記画像形成装置の電源が投入されてから画像形成開始信号が入力される前に、少なくとも1つ且つ前記テストモードにおけるテストバイアスの種類よりも少ない数のチェックバイアスを前記帯電器に印加するチェックモードにおいて前記チェックバイアスを印加した際に前記検知器により検知された電流に基づき、前記テストモードを実行することにより帯電バイアスを設定する第1のモードと、前記テストモードを実行することなく前回のテストモードを経て調整された帯電バイアスを設定する第2のモードとを含む複数のモードの中から1つを選択する選択器と、
を有することを特徴とする画像形成装置。
IPC (3件):
G03G 15/02
, G03G 15/00
, G03G 21/00
FI (3件):
G03G15/02 102
, G03G15/00 303
, G03G21/00 384
Fターム (45件):
2H200FA09
, 2H200GA12
, 2H200GA23
, 2H200GA34
, 2H200GA45
, 2H200GA57
, 2H200GB13
, 2H200GB22
, 2H200HA02
, 2H200HA22
, 2H200HA29
, 2H200HA30
, 2H200HB12
, 2H200HB22
, 2H200HB43
, 2H200HB45
, 2H200HB46
, 2H200HB48
, 2H200JA02
, 2H200JB10
, 2H200JC03
, 2H200JC12
, 2H200MA03
, 2H200MA08
, 2H200MA14
, 2H200MA20
, 2H200MB04
, 2H200MB06
, 2H200NA06
, 2H200PA05
, 2H200PA19
, 2H200PA22
, 2H200PB05
, 2H200PB32
, 2H200PB35
, 2H200PB38
, 2H270LA04
, 2H270LD05
, 2H270MA02
, 2H270MB01
, 2H270MB27
, 2H270MB30
, 2H270PA83
, 2H270ZC03
, 2H270ZC04
引用特許:
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