光断層像撮影装置

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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-019305
公開番号（公開出願番号）：特開2013-156229
出願日： 2012年01月31日
公開日（公表日）： 2013年08月15日
要約：

【課題】容易に好適な断層画像を取得する。【解決手段】波長可変光源と、波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、測定光を被検物上で走査する走査光学系と、被検物からの前記測定光の反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力されるスペクトル信号を処理して、断層画像を取得する演算処理部と、を備え、演算処理部は、スペクトル信号に含まれるノイズ成分に対応する信号の位相情報を取得し、取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、位相ずれが補正されたスペクトル信号を処理して断層画像を取得する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

波長可変光源と、前記波長可変光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を被検物上で走査する走査光学系と、被検物からの前記測定光の反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力されるスペクトル信号を処理して、断層画像を取得する演算処理部と、を備え、前記演算処理部は、前記スペクトル信号に含まれるノイズ成分に対応する信号の位相情報を取得し、取得された位相情報に基づいて前記スペクトル信号の位相ずれを補正し、位相ずれが補正されたスペクトル信号を処理して断層画像を取得することを特徴とする光断層像撮影装置。

IPC (3件)：

G01N 21/17 , A61B 3/10 , A61B 3/12

FI (3件)：

G01N21/17 630 , A61B3/10 R , A61B3/12 E

Fターム (23件)：

2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059EE12 , 2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059GG09 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ03 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK01 , 2G059LL01 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059NN01

引用特許：

審査官引用 (4件)

光断層画像化装置及び光断層画像化装置における干渉信号の処理方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-174197 出願人：富士フイルム株式会社, フジノン株式会社
画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及び画像処理をコンピュータに実行させるためのプログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2010-064755 出願人：キヤノン株式会社
信号処理方法、信号処理デバイス及び光画像計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2010-098808 出願人：株式会社トプコン

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