特許
J-GLOBAL ID：201303090002439546

接続損失測定方法及び挿入損失測定方法

発明者：
角田 耕司

角田 耕司 について

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小林 照武

小林 照武 について

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藤原 邦彦

藤原 邦彦 について


出願人/特許権者：
株式会社フジクラ

株式会社フジクラ について


代理人 (1件)： 山崎 高明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-005242
公開番号（公開出願番号）：特開2013-145152
出願日： 2012年01月13日
公開日（公表日）： 2013年07月25日
要約：
【課題】光路変換型の光コネクタ及び光路変換型の光コネクタに取り付けられた光ファイバを含む測定対象につき、光強度測定装置を用いて接続損失を正確に測定できる接続損失測定方法及び挿入損失測定方法を提供する。【解決手段】光ファイバ14が取り付けられ光ファイバ14からの出射光の光路を変換して出射する光コネクタ10を貫通孔36が形成された遮光治具35を備えた測定治具1に装着し、この測定治具1を光強度測定装置20に装着し、光コネクタ10に取り付けられた光ファイバ14に光を入射させ、光コネクタ10で光路変換されて貫通孔36を通過した光の強度を光強度測定装置20で測定して、光コネクタ10に取り付けられた光ファイバ14の損失を測定する。遮光治具35の貫通孔36は、光コネクタ10の使用目的である受発光素子が実装された基板に光コネクタ10を装着したときに受光素子によって受光される光のみを通過させるように形成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光部品に装着される光路変換型の光コネクタであってそれに一端を固定した光ファイバの光路を前記光部品に設けた光素子の光路に変換する前記光コネクタを、その光コネクタによって光路変換された光を受光するように光強度測定装置に装着し、 前記光強度測定装置が、前記光コネクタの接続損失を求めるために、前記光コネクタで光路変換された光を受光して光強度を測定する ステップを含む接続損失測定方法。
IPC (1件)：
G01M 11/02
FI (1件)：
G01M11/02 J
Fターム (1件)：
2G086KK02
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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