特許
J-GLOBAL ID：201303093103758293

光学フィルムの欠陥判別方法

発明者：
ウン ギュ リ

ウン ギュ リ について

, 
ジョン ウー キム

ジョン ウー キム について

, 
ソン ジュン ペ

ソン ジュン ペ について


出願人/特許権者：
東友ファインケム株式会社

東友ファインケム株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人アイミー国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-094023
公開番号（公開出願番号）：特開2013-235579
出願日： 2013年04月26日
公開日（公表日）： 2013年11月21日
要約：
【課題】光学フィルムの欠陥及び非欠陥を正確に判別する方法を提供する。【解決手段】移送される光学フィルムを撮影して異物が存在する領域を選別する段階(S1)と、前記領域中の異物のうち、移送方向に平行な二辺と、それに垂直な二辺からなる長方形が最小面積で異物を含む場合に、前記移送方向に平行な辺がそれに垂直な辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階(S2)とを備えることによって、光学フィルムの製造歩留りを顕著に上昇させることができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
(S1)移送される光学フィルムを撮影して異物が存在する領域を選別する段階と、 (S2)前記領域中の異物のうち、移送方向に平行な二辺とそれに垂直な二辺とからなる長方形が最小面積で異物を含む場合に、前記移送方向に平行な辺がそれに垂直な辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階と を備える光学フィルムの欠陥判別方法。
IPC (3件)：
G06T 1/00 ,  G01N 21/88 ,  G01N 21/896
FI (3件)：
G06T1/00 300 ,  G01N21/88 H ,  G01N21/896
Fターム (27件)：
2G051AA41 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051CB02 ,  2G051CC07 ,  2G051DA06 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EB05 ,  2G051EB09 ,  2G051EB10 ,  2G051EC01 ,  2G051ED04 ,  2G051ED08 ,  2G051ED21 ,  2G051GD01 ,  2G051GD05 ,  5B057AA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DA12 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC30
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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