特許
J-GLOBAL ID:201303098857308598
触媒微粒子の被覆率算出方法及び触媒微粒子の評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
岸本 達人
, 山下 昭彦
, 山本 典輝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-028849
公開番号(公開出願番号):特開2013-164404
出願日: 2012年02月13日
公開日(公表日): 2013年08月22日
要約:
【課題】触媒微粒子において中心粒子に対する最外層の被覆率を従来よりも正確に算出する方法、及び当該算出方法を応用した触媒微粒子の評価方法を提供する。【解決手段】中心粒子、及び当該中心粒子を被覆する最外層を備える触媒微粒子において、当該中心粒子に対する当該最外層の被覆率を算出する方法であって、前記触媒微粒子を準備する工程、前記触媒微粒子の電気化学表面積を算出する工程、前記触媒微粒子について酸素還元反応測定を行い、当該測定により生成した過酸化水素量を算出する工程、並びに、前記電気化学表面積の値及び前記過酸化水素生成量の値から前記被覆率を算出する工程、を有することを特徴とする、触媒微粒子の被覆率算出方法。【選択図】図6
請求項(抜粋):
中心粒子、及び当該中心粒子を被覆する最外層を備える触媒微粒子において、当該中心粒子に対する当該最外層の被覆率を算出する方法であって、
前記触媒微粒子を準備する工程、
前記触媒微粒子の電気化学表面積を算出する工程、
前記触媒微粒子について酸素還元反応測定を行い、当該測定により生成した過酸化水素量を算出する工程、並びに、
前記電気化学表面積の値及び前記過酸化水素生成量の値から前記被覆率を算出する工程、を有することを特徴とする、触媒微粒子の被覆率算出方法。
IPC (3件):
G01N 27/48
, B01J 23/89
, G01N 27/42
FI (3件):
G01N27/48 311
, B01J23/89 M
, G01N27/42 M
Fターム (15件):
4G169AA03
, 4G169AA11
, 4G169AA20
, 4G169BA08B
, 4G169BC31B
, 4G169BC72B
, 4G169BC75B
, 4G169CC32
, 4G169DA05
, 4G169EA01Y
, 4G169EC28
, 5H018AA06
, 5H018DD10
, 5H026AA06
, 5H027AA06
引用特許: