特許
J-GLOBAL ID：201303099975267096

光断層画像撮像装置

発明者：
戸松 宣博

戸松 宣博 について

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末平 信人

末平 信人 について

, 
松本 和浩

松本 和浩 について

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宮田 和英

宮田 和英 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-110749
公開番号（公開出願番号）：特開2013-090903
出願日： 2012年05月14日
公開日（公表日）： 2013年05月16日
要約：
【課題】 参照光の光路に設けられた光学部材が光源からの熱の影響を受けると、光学部材の形状変化等により、光学部材の機能が低下する。【解決手段】 本発明に係る光断層画像撮像装置は、光源101-1〜3を格納する光源格納部302と、参照光の光路の一部を格納し且つ光源格納部302の側面に離間して設けられた参照格納部301と、を有することを特徴とする。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
複数の光から分かれた複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、該複数の光から分かれ且つ該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とを合波した複数の合波光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層画像撮像装置であって、 前記複数の光を発生させる光源部と、 前記光源部を格納する光源格納部と、 前記複数の参照光の光路の一部を格納し且つ前記光源格納部の側面に離間して設けられた参照格納部と、 を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
IPC (1件)：
A61B 3/10
FI (1件)：
A61B3/10 R
Fターム (24件)：
2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP06 ,  4C038VA04 ,  4C038VB04 ,  4C038VB22 ,  4C038VC01
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (7件)
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