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J-GLOBAL ID：201402216321611634   整理番号：14A0369448

広域逆格子マップ測定によるc面サファイア基板上ZnTe薄膜の評価

著者 (11件)： 相場貴之 (早大 先進理工) ,  中須大蔵 (早大 先進理工) ,  山下聡太郎 (早大 先進理工) ,  SUN W. (早大 先進理工) ,  田栗光祐 (早大 先進理工) ,  服部翔太 (早大 先進理工) ,  風見蕗乃 (早大 先進理工) ,  小林正和 (早大 先進理工) ,  小林正和 (早大 材研) ,  都甲浩芳 (NTT) ,  朝日聡明 (JX金属)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 61st  ページ： ROMBUNNO.18A-D2-2  発行年： 2014年03月03日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *テルル化亜鉛 ,  *半導体薄膜 ,  基板 ,  サファイア ,  *構造解析 ,  格子 ,  構造 ,  化合物半導体 ,  電磁波 ,  サブミリ波 ,  X線回折 ,  結晶面 ,  テラヘルツ波 ,  サファイア基板 ,  ドメイン構造 ,  *逆格子 ,  鉱石 ,  宝石

分類 (1件)： 半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 広域 ,  逆格子 ,  マップ ,  サファイア基板 ,  ZnTe ,  薄膜 ,  評価