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J-GLOBAL ID：201402226055762686   整理番号：14A0155770

共鳴軟X線散乱による強磁性金属La_0.6Sr_0.4MnO₃薄膜中の正孔分布の推定

著者 (10件)： 芝田悟朗 (東大 理) ,  和達大樹 (東大 工) ,  田久保耕 (Univ. of British Columbia) ,  高橋文雄 (東大 理) ,  藤森淳 (東大 理) ,  SUTARTO R. (Canadian Light Source) ,  HE F. (Canadian Light Source) ,  吉松公平 (KEK) ,  組頭広志 (KEK) ,  小出常晴 (KEK)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 27th  ページ： 124  発行年： 2014年01月11日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 強磁性体 ,  X線散乱 ,  共鳴散乱 ,  軟X線 ,  磁性薄膜 ,  固溶体 ,  ストロンチウム化合物 ,  マンガン酸塩 ,  ランタン化合物 ,  *キャリア密度 ,  深さ分布 ,  膜厚 ,  *X線吸収スペクトル ,  干渉縞
準シソーラス用語： *共鳴X線散乱 ,  強磁性薄膜 ,  *LSMO【化合物】 ,  *マンガン酸ランタンストロンチウム ,  *正孔密度

分類 (2件)： X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  その他の無機化合物の電気伝導  (BM03044O)

タイトルに関連する用語 (6件)： 共鳴軟X線散乱 ,  強磁性金属 ,  薄膜 ,  正孔 ,  分布 ,  推定