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J-GLOBAL ID：201402235846785921   整理番号：14A0226601

時間インターリーブADCにおける混合サンプル-時間誤り校正法

A mixed sample-time error calibration technique in time-interleaved ADCs

著者 (4件)： YU Bei (State Key Lab of ASIC and System, Fudan Univ.) ,  CHEN Chixiao (State Key Lab of ASIC and System, Fudan Univ.) ,  YE Fan (State Key Lab of ASIC and System, Fudan Univ.) ,  REN Junyan (State Key Lab of ASIC and System, Fudan Univ.)
資料名： IEICE Electronics Express (Web)  (IEICE Electronics Express (Web))
巻： 10  号： 24  ページ： 20130882-20130882 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： U0039A  ISSN： 1349-2543  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： チャネル間のサンプル-時間誤りは時間インターリーブアナログ/ディジタル変換器(TIADC)の分解能を劣化させる。本文では,高複雑度で高速収束の混合回路で実行する校正法を提案する。サンプル-時間誤り検出アルゴリズムは相関に基づいており,広義定常入力信号に広範囲に亘って適用されている。ここで検出したサンプル-時間誤りを電圧制御型サンプリングスイッチで訂正する。2チャネル200MS/s14ビットTIADCの実験結果により,校正後の70.12MHz入力に対して信号対雑音+歪比が19.1dB改善され,無スプリアスダイナミックレンジが34.6dB改善されたことを示す。校正の収束時間は約20000サンプリング間隔である。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *誤り訂正 ,  インタリーブ ,  *AD変換器 ,  *キャリブレーション ,  分解能 ,  *誤り検出 ,  電圧制御 ,  雑音特性 ,  SN比 ,  *AD変換 ,  ダイナミックレンジ ,  信号標本化 ,  収束 ,  ゆがみ
準シソーラス用語： 時間インターリーブ ,  SNDR ,  SFDR ,  スキュー

分類 (1件)： AD・DA変換回路  (NC05080M)

引用文献 (9件)：

• [1] N. Kurosawa, H. Kobayashi, K. Maruyama, H. Sugawara and K. Kobayashi: IEEE Trans. Circuits Syst. I: Fundam. Theory Appl. 48 [3] (2001) 261.
• [2] C. Hsu, F. Huang, C. Shih, C. Huang, Y. Lin, C. Lee and B. Razavi: IEEE ISSCC Dig. Tech. Papers (2007) 464.
• [3] H. Jin and E. K. F. Lee: IEEE Trans. Circuits Syst. II, Analog Digit. Signal Process. 47 (2000) 603.
• [4] C. H. Law, P. J. Hurst and S. H. Lewis: IEEE J. Solid-State Circuits 45 [10] (2010) 2091.
• [5] M. El-Chammas and B. Murmann: IEEE J. Solid-State Circuits 46 [4] (2011) 838.

タイトルに関連する用語 (5件)： インターリーブ ,  ADC ,  サンプル ,  誤り ,  校正