文献

J-GLOBAL ID：201402245888697777   整理番号：14A1506421

蛍光X線ホログラフィを用いて調査した強磁性半導体Ge_0.6Mn_0.4Te膜の歪のある,及び歪のない原子サイト

Distorted and Undistorted Atomic Sites in a Ferromagnetic Semiconductor Ge_0.6Mn_0.4Te Film Determined by X-ray Fluorescence Holography

著者 (6件)： HAPPO Naohisa (Hiroshima City Univ., Hiroshima, JPN) ,  HAYASHI Kouichi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SENBA Shinya (Ube National Coll. Technol., Yamaguchi, JPN) ,  SATO Hitoshi (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN) ,  SUZUKI Motohiro (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI/SPring-8), Hyogo, JPN) ,  HOSOKAWA Shinya (Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 83  号： 11  ページ： 113601.1-113601.4  発行年： 2014年11月15日 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ge_0.6Mn_0.4Te薄膜におけるGe及びMn原子の周りの局所的原子構造をGeおよびMnのKα蛍光X線ホログラフィの実験により調査した。得られた立体的な原子イメージから,Mnの周りの局所構造は岩塩格子を形成し,一方Geの周りの格子は大きく歪,GeTeの菱面体の構造によって反映されていることが判明した。Mn原子の周りのひずみのない岩塩環境は,この合金が高温の強磁性を示す主要因であると考えられている。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線ホログラフィー ,  *強磁性半導体 ,  ゲルマニウム化合物 ,  テルル化物 ,  マンガン化合物 ,  *歪 ,  *強磁性 ,  *局所歪 ,  蛍光X線ホログラフィー ,  一テルル化ゲルマニウム
準シソーラス用語： GeTe

分類 (2件)： その他の無機化合物の磁性  (BM06060P) ,  その他のホログラフィー  (BD03073D)

引用文献 (25件)：

• R. W. Cochrane, M. Plischke, and J. O. Ström-Olsen, Phys. Rev. B 9, 3013 (1974).
• Y. Fukuma, H. Asada, S. Miyawaki, T. Koyanagi, S. Senba, K. Goto, and H. Sato, Appl. Phys. Lett. 93, 252502 (2008).
• M. Hassan, G. Springholz, R. T. Lechner, H. Groiss, R. Kirchschlager, and G. Bauer, J. Cryst. Growth 323, 363 (2011).
• J. Goldak, C. S. Barrett, D. Innes, and W. O. Youdelis, J. Chem. Phys. 44, 3323 (1966).
• W. D. Johnston and D. E. Sestrich, J. Inorg. Nucl. Chem. 19, 229 (1961).

タイトルに関連する用語 (5件)： 蛍光X線ホログラフィ ,  調査 ,  強磁性半導体 ,  歪 ,  原子