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J-GLOBAL ID：201402259907592133   整理番号：14A1122190

ナノ触診AFMとその定量的な機械特性のマッピング

Nano-palpation AFM and its quantitative mechanical property mapping

著者 (8件)： NAKAJIMA Ken (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ITO Makiko (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  WANG Dong (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  LIU Hao (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  NGUYEN Hung Kim (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  LIANG Xiaobin (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KUMAGAI Akemi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  FUJINAMI So (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Microscopy  (Microscopy)
巻： 63  号： 3  ページ： 193-207  発行年： 2014年06月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 2050-5698  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 軟質材料の機械特性の定量的なマッピングを行うナノ触診原子間力顕微鏡法を概説した。この方法では軟質材料表面上で力-変形曲線を測定する。Hertz接触力学とDerjaguin-Muller-Toporov接触力学がこの実験曲線をなぜ再現できないか説明し,またJohnson-Kendall-RobertモデルはMPaからGPaの領域でYoung率を定量的に測定できることを示した。機械特性(弾性率や接着エネルギー)の2次元マップを求める力-体積法を説明した。

シソーラス用語： 触診 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *軟質材料 ,  曲線 ,  接触 ,  *Young率 ,  エネルギー ,  弾性係数 ,  力学
準シソーラス用語： *荷重-変形曲線 ,  *Hertz接触 ,  *接着エネルギー ,  弾性率 ,  接触力学

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (62件)：

• Binning G, Quate C F, Gerber Ch, Weibel E (1986) Atomic Force Microscope. Phys. Rev. Let. 56: 930.
• García R, Pérez R (2002) Dynamic atomic force microscopy methods. Surf. Sci. Rept. 47: 197.
• Giessibl F J (2003) Advances in atomic force microscopy. Rev. Mod. Phys. 75: 949-983.
• Butt H-J, Cappella B, Kappl M (2005) Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surf. Sci. Rept. 59: 1.
• Bonnell D (2001) Scanning probe microscopy and spectroscopy (Wiley, New York).

タイトルに関連する用語 (5件)： 触診 ,  AFM ,  定量 ,  機械特性 ,  マッピング